與單角度動態光散射技術相比，多角度動態光散射（MADLS）顆粒測量技術能夠提高顆粒粒度分布的測量準確性。但在MADLS技術中，測量角度的選擇常常與被測顆粒體系的分布有關。對100nm、500nm的單峰模擬分布和300 nm與600nm混合的雙峰模擬分布的顆粒體系，分別在1、3、６、９個散射角條件下進行了測量。顆粒粒度反演結果表明，隨著散射角個數的增大，顆粒粒度分布更趨于真實的顆粒粒度分布。對數量比為5:1的100nm 與503nm雙峰分布的聚苯乙烯顆粒，分別在１、３、５、１０個散射角條件下進行了測量，實測結果表明采用單角度測量只能得到單峰分布，３個及更多散射角可得到雙峰分布，并且雙峰的數量比隨散射角數量的增加逐漸趨近真實的數量比。因此，MADLS顆粒測量技術能夠改善顆粒粒度分布的測量結果，但這種改善程度會隨散射角的增多逐漸降低。由于散射角個數的增多會增加散射角的校準噪聲和光強相關函數的測量噪聲，因而會導致在有些情況下顆粒粒度分布的測量結果反而變差。